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Electron Microscope
Phenom ProX
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탁상형 주사전자현미경 (Mini SEM)

- 간편하고 쉽게 고성능 SEM 이미지 구현
- Element Identification S/W 이용
- Charge reduction 모드 가능
- EDS 분석 가능
 
•Analysis
 -Max. 15kV acceleration voltage (beam penetration)
 -X-ray count rate (beam current)
 
•Imaging
 - New column design, more flexibility to provide the best  
   possible image quality on different samples.
 - Image Resolution : ≤ 8 nm
 - Secondary Electron Detector(Optional)